走進JHM1101的AEC-Q100認證：測試的點點滴滴
AEC-Q100，著名而嚴苛的、針對車用芯片可靠性的、世界通行的車規(guī)級測試認證標準。
100%通過AEC-Q100全部測試項目的JHM1101芯片，是經(jīng)過了怎樣的“拷打”？讓我們一起走進具體的測試環(huán)節(jié)，探究JHM1101的強悍。
預處理
預處理的第一步是看顏值，直接目測、電子顯微鏡下的檢查都是必不可少的。確認沒有任何裂縫之類的損傷之后，這3個批次的JHM1101芯片，需要完成5個溫度循環(huán)、24小時的烘烤、再加上192小時的吸潮和3個循環(huán)的模擬回流焊。
情況如何？——芯片們在電測試中表現(xiàn)優(yōu)異，全部一次性通過。
預處理中的測試板供電
溫度循環(huán)
溫度循環(huán)測試是對JHM1101芯片進行“溫度鍛煉”：通過循環(huán)流動的空氣從低溫到高溫再到低溫重復變化，溫度范圍-65℃~150℃，完成1000次循環(huán)試驗，并且在試驗前后需要對芯片進行高溫(150℃)電測試。
溫度循環(huán)中的測試用芯片先后通過了高溫測試與加速條件下高低溫反復變化測試，經(jīng)歷了上千次的高低溫電測試。
無論溫度變化如何頻繁，JHM1101電介質(zhì)、導體和絕緣體等不同金屬界面之間始終保持著優(yōu)秀的接觸良率，每顆芯片的每次電測試都得到了【合格】的測試結(jié)果。
部分測試結(jié)果
加速環(huán)境應力測試
芯片在高溫、高濕、高壓的極端環(huán)境中，是否能保持正常工作？類比高壓鍋做一鍋雞湯，鍋里的場景吧。這個試驗條件是溫度130℃、濕度85%、0.2兆帕高壓，芯片放置96小時，并且試驗前后需要通過常溫、高溫(150℃)的電測試。
這樣的加速環(huán)境應力測試，分為芯片不加電（無偏高加速應力測試）和加電（有偏高加速應力測試）兩部分，最終在超級高壓“桑拿”中沐浴過的JHM1101芯片，通過考驗，安然進入下一步測試。
與上一項相比，這次的考驗不是僅僅是惡劣環(huán)境下的“放置”，而是更加重要的“正常工作”——這些JHM1101芯片，在130℃、85%濕度及高壓、外部供電5.5V的條件下，持續(xù)工作96小時，并進行了數(shù)百次測試驗證。
結(jié)論：JHM1101，一切正常！長期的惡劣環(huán)境下，依然值得信賴。
高溫貯存
被扔在150℃高溫中，苦苦地等待2000小時，最終會得到什么樣的結(jié)果？問問我們的JHM1101吧，它們沉著冷靜地通過了芯片高溫貯存測試。與此同時，試驗前后需要對芯片進行常溫與高溫(150℃)電測試，證明它們在正常工作。
高溫貯存測試給出了結(jié)論：JHM1101在高溫且?guī)啄瓴还ぷ鳁l件下依然能夠加電即正常工作，從貯存的角度再度證明了這款芯片的穩(wěn)定性。
2000小時后常高溫測試
早期失效率
早期失效是電子元器件、集成電路等等電子產(chǎn)品的質(zhì)量特點之一，針對這個問題的驗證是必不可少的。三個批次的JHM1101在150℃，5.5V供電，持續(xù)工作48小時的試驗條件下，全部合格、通過，完美驗證JHM1101的可靠性。
高溫壽命測試
在150℃高溫環(huán)境下芯片能持續(xù)工作1000小時嗎？答案是肯定的。JHM1101通過了這樣的高溫壽命測試，它們在正常的5.5V供電下，持續(xù)工作1000小時，并且在之后的低溫(-40℃)、常溫（室溫）、高溫(150℃)各種電測試中也都一切正常。
高低溫電測試與上千小時的持續(xù)工作時間證明，高溫條件下JHM1101依然擁有穩(wěn)定而符合標準的使用壽命。
AEC-Q100還包括引線、電遷移、靜電、電磁、無鉛、生產(chǎn)過程控制等等其他各個方面的測試和驗證，JHM1101完成了各組實驗檢測全部合格，達成了全部測試樣品百分百合格率，失效只數(shù)0的優(yōu)秀成績，順利通過了AECQ-100嚴苛的各項測試。
溫箱后的接線
溫箱內(nèi)放置測試板
無論是貯存還是工作使用，無論是高溫、高濕還是高壓使用環(huán)境，JHM1101在AEC-Q100的測試中全方面多角度體現(xiàn)出自身質(zhì)量優(yōu)良、穩(wěn)定可靠、抗干擾能力強等諸多優(yōu)點。久好電子的芯片，高可靠性、高穩(wěn)定性、高性價比！
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